依類型 族群 主題   
 
 
2019.06.26
n型鰭式電晶體之異常電特性曲線研究
族群: 跨族群  
主題: 學術研究  
作者 謝子鈞
學校系所 明新科技大學 電子工程系碩士班
地點 全臺 全部  
研究內容

 平面式場效電晶體在半導體產業當中已經有很長一段時間了,也是相當重要的元件,然而,現今已是奈米製程時代,元件尺寸不斷地在縮小,有面臨到一些問題與挑戰,且電子產品持續的推陳出新,要求效能高、成本低與體積小,讓人們在攜帶上更加便利。為了符合這些需求,在此發現三維鰭式場效電晶體(FinFET),在奈米等級的應用中,可說是很好的元件。而在本次的實驗中,所使用的是鰭式場效電晶體(FinFET)元件,此元件相較於傳統平面式場效電晶體,閘極對通道的控制能力相當好,將FinFET元件發揮到最高效能。

在量測實驗當中,是以n型FinFET來作主要待測元件,以固定通道寬度W=0.12μm,搭配著不同通道長度(L=10μm、2μm、0.5μm、0.24μm、0.16μm)來作量測。使用過度曝光的技術觀察到特性曲線出現異常的現象,在W/L=0.12μm/0.5μm、W/L=0.12μm/0.24μm、W/L=0.12μm /0.16μm,會引起所謂的浮體效應(floating body effect)也被稱作為扭結效應(kink effect)。隨後加入溫度的量測(25℃、50℃、75℃、100℃),再去看電特性曲線的變化,發現在溫度越高時,扭結效應也會愈來愈明顯。
相關網頁 https://ntu.primo.exlibrisgroup.com/permalink/886NTU_INST/f27f2j/alma991038706773404786