本篇論文是利用受挫式全反射法和激發表面電漿波 Otto和Kretschmann組態;Otto組態由 [稜鏡(GaP)-待測物(四氯化碳)-金屬薄膜]進行模擬分析。Kretschmann組態由 [稜鏡(GaP)-金屬薄膜-待測物(四氯化碳)]進行模擬分析。
本論文是採用電腦模擬,採用632.8(nm)的紅光氦氖雷射作為入射光源,分別對Otto及Kretschmann組態的金屬薄膜厚度和入射角度的變化來進行電腦模擬。
經由電腦模擬分析結果得知,在Otto組態中使用銀薄膜[待測層厚度450(nm)]、 金薄膜[待測層厚度250(nm)]、 銅薄膜[待測層厚度200(nm)];在Kretschmann組態中使用銀薄膜厚度55.5(nm)、金薄膜厚度45(nm)、銅薄膜厚度40(nm)時,所產生的最佳化表面電漿波共振角。 |